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閃爍晶體到底是什么?可能很多人都沒聽過這個詞,但其實,在我們的日常生活中并不陌生。閃爍體是一種當被電離輻射激發(fā)之后會表現(xiàn)出發(fā)光特性的材料,是將高能轉(zhuǎn)換為可見光的一種典型光電轉(zhuǎn)換材料,可用于輻射探測和安全防護,通常在應(yīng)用中將其加工成晶體,稱為閃爍晶體。
硫化銦(In2S3 )[1]是一種具有極高潛在利用價值的半導(dǎo)體材料,可作為CIGS薄膜太陽能電池的緩沖層材料,并有望作為Cds緩沖層的替代材料,在光伏與光電器件上有很好的應(yīng)用前景。 In2S3在常溫常壓下比較穩(wěn)定,屬于立方晶系,具有四面體和八面體的空間結(jié)構(gòu),并存在高密度的In空位。 一般存在α、β、r 3種相,常溫下穩(wěn)定的為β 相。
半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展,器件特征尺寸不斷下降,而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機理的分析帶來巨大的挑戰(zhàn)。對于半導(dǎo)體失效分析(FA)而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測能力,可偵測到半導(dǎo)體組件中電子-電洞對再結(jié)合時所發(fā)射出來的光線,能偵測到的波長約在350nm ~ 1100nm 左右。 它可以廣泛的應(yīng)用于偵測IC 中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流,如: Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理圖如下:
測試單位:北京卓立漢光儀器有限公司(Zolix Instrument Co., LTD) 測試對象:聚光多結(jié)太陽能電池 實驗?zāi)康模憾嘟Y(jié)太陽能電池的QE及IV特性測試
測試單位:北京卓立漢光儀器有限公司(Zolix Instrument Co.,LTD) 測試對象:光電化學電池(PEC) 實驗?zāi)康模汗怆娀瘜W電池的IPCE