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CIGS是Copper indium gallium selenide的縮寫(xiě),中文簡(jiǎn)稱銅銦鎵硒,CIGS是由IV族化合物衍生而來(lái)。CIS是一種直接帶隙的半導(dǎo)體材料,其能隙為1.04 eV(77 K),當(dāng)摻入適當(dāng)?shù)腉a以替代部分In成為CuInSe2和CuGaSe2的固溶晶體為CuIn1-xGaxSe2,薄膜的禁帶寬度可在1.04-1.7eV范圍內(nèi)調(diào)整。
另外其光吸收系數(shù)高達(dá)105cm-1,是已知的半導(dǎo)體材料中光吸收系數(shù)高的,對(duì)于太陽(yáng)能電池基區(qū)光子的吸收、少數(shù)載流子的收集(即對(duì)光電流的收集)是非常有利的條件。這就是CdS/CuInSe2太陽(yáng)能電池(39 mA/cm2)具有這樣高的短路電流密度的原因。電池吸收層的厚度可以降低到2~3μm,大大降低原材料的消耗。目前由NREL記錄的高轉(zhuǎn)換效率為20%左右。
CIGS基太陽(yáng)能電池的典型架構(gòu)
(摘取自:Wikipedia,檢索詞:Copper indium gallium selenide solar cells)
CZTS是Copper zinc tin sulfide的縮寫(xiě),組分為:Cu2ZnSnS4,中文簡(jiǎn)稱銅鋅錫硫電池,銅鋅錫硫化合物為一種直接帶隙半導(dǎo)體,可用于薄膜太陽(yáng)能電池的吸收層。禁帶寬度為1.4-1.5eV?;诖祟惒牧线€衍生出CZTSe 和CZTSSe,與CIGS有類似的光學(xué)和電學(xué)性能。目前其轉(zhuǎn)換效率仍遠(yuǎn)低于CIGS和CdTe,實(shí)驗(yàn)室目前記錄的效率是11.0%基于CZTS和12.6%基于CZTSSe。
CZTSSe基太陽(yáng)能電池的典型架構(gòu)
(摘取自:"CZTSSe | PVEducation," [Online]. Available:http://www.pveducation.org/es/fotovoltaica/czts.)
PSCs是Perovskite Solar Cells的簡(jiǎn)稱,中文簡(jiǎn)稱鈣鈦礦型太陽(yáng)能電池,鈣鈦礦是對(duì)活性層材料的結(jié)構(gòu)統(tǒng)稱,經(jīng)典的材料是鹵化鉛甲胺(CH3NH3PbX3 perovskites,其中X代表鹵族元素,X=I,Br,Cl)。其發(fā)展極為迅速,光電轉(zhuǎn)換效率在短短的10年間從3.8%到25%,更有各個(gè)領(lǐng)域的專家推出鈣鈦礦/硅基疊層太陽(yáng)能電池,鈣鈦礦/銅基薄膜疊層電池以及全無(wú)機(jī)鈣鈦礦型太陽(yáng)能電池等多元化的基于“鈣鈦礦”概念的太陽(yáng)能電池,有望成為下一代太陽(yáng)能電池的主力產(chǎn)品。
鈣鈦礦型太陽(yáng)能電池的結(jié)構(gòu)圖
(摘取自:Mark Wolverton; Scilight 2018, 080003 (2018)DOI: 10.1063/1.5026230)
半導(dǎo)體薄膜電池的光致發(fā)光(以下簡(jiǎn)稱PL)及時(shí)間分辨光致發(fā)光(以下簡(jiǎn)稱TRPL)表征意義
材料通過(guò)摻雜之后,會(huì)呈現(xiàn)不同的PL圖譜(不同的帶隙),對(duì)于研究材料的物理機(jī)理(直接帶隙、間接帶隙、缺陷)具有基本及重要的表征意義。
Cu2ZnSn(SexS1-x)4薄膜的PL圖譜[1]
TRPL(時(shí)間分辨光致發(fā)光)表征意義—測(cè)量少數(shù)載流子壽命,推算載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度。
TDPL(溫度依賴光致發(fā)光)表征意義—變溫PL看材料的缺陷
CZTS多晶的溫度依賴PL圖譜[3]
測(cè)鈣鈦礦太陽(yáng)能電池器件的熒光強(qiáng)度,此時(shí)還有參與工作的電子傳輸層和空穴傳輸層,很多課題組都會(huì)研究替換電子/空穴傳輸層的材料,來(lái)提高對(duì)電子/空穴的抽取,此時(shí)就產(chǎn)生熒光猝滅,熒光強(qiáng)度衰減,熒光壽命減短,IPCE提高;由于顯微PL具備足夠高的靈敏度,可以明顯區(qū)分熒光猝滅后的強(qiáng)度變化;
PVK與不同傳輸層組成的異質(zhì)結(jié)的PL圖譜[4]
對(duì)于半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)能電池,熒光壽命的表征有助于研究載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度/距離,而在鈣鈦礦型太陽(yáng)能電池里,鈣鈦礦半導(dǎo)體層作為器件組成的重要“基石”,針對(duì)材料本身進(jìn)行TRPL甚至是顯微TRPL的表征,有利于評(píng)估其材料質(zhì)量及缺陷。
CH3NH3PbI3(Cl) 薄膜的熒光成像及取點(diǎn)PL&TRPL測(cè)量[5]
載流子重組過(guò)程,即自由電子-空穴發(fā)光是鈣鈦礦太陽(yáng)能電池里最常被研究的,也是最直接關(guān)乎其性能的過(guò)程[6]。平面異質(zhì)結(jié)鈣鈦礦太陽(yáng)電池除了鈣鈦礦層具有強(qiáng)大的光電性能,還需要電子傳輸層和空穴傳輸層為電子和空穴提供了獨(dú)立的輸運(yùn)通道。組成的結(jié)構(gòu)又分為n-i-p型和p-i-n型兩種,其中鈣鈦礦層分別與電子傳輸層和空穴傳輸層形成兩個(gè)界面, 在這兩個(gè)界面上實(shí)現(xiàn)電子和空穴的快速分離。通過(guò)PL相對(duì)強(qiáng)度(或是量子產(chǎn)率)以及TRPL的衰減時(shí)間變化,可以佐證通過(guò)替換電子傳輸層、空穴傳輸層材料,電子空穴被快速抽取,IPCE得以改良的結(jié)果。
測(cè)鈣鈦礦太陽(yáng)能電池器件的壽命,此壽命在幾十幾百納秒,以皮秒脈沖激光器搭配時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(TCSPC),可以完美覆蓋亞納秒到10μs時(shí)間尺度的熒光壽命測(cè)量。
用PL和TRPL反饋CH3NH3PbI3與不同材料傳輸層的相互作用[7]
3)PL mapping測(cè)量功能:配置電動(dòng)位移臺(tái)及陣列探測(cè)器如CCD,看材料生長(zhǎng)缺陷,便于研究制備工藝的改善;
圖c,f分別為面板b,e的PL Mapping[8]
圖a,c,e為光學(xué)圖像,圖b,d,f為分別對(duì)應(yīng)的PL Mapping[9]
應(yīng)用于薄膜電池PL及TRPL測(cè)試的顯微PL系統(tǒng)
配置表
配置&功能 | 推薦配置及參數(shù) |
顯微PL光譜儀 |
顯微PL光譜儀主機(jī)包含: 1)顯微光路模塊,帶內(nèi)置(空間)光路、外置(空間)光路、光纖耦合輸入,標(biāo)配10X、50X、100X顯微物鏡,三維可調(diào)載物臺(tái);
2)樣品監(jiān)視CCD,≤1μm的成像空間分辨率;
3)320mm焦距科研級(jí)影像校正光譜儀;
4)紫外-可見(jiàn)TE制冷型PMT,光譜范圍200-870nm; |
穩(wěn)態(tài)PL激發(fā)源 |
單模連續(xù)激光器:405nm、450nm、532nm、633nm; |
瞬態(tài)PL激發(fā)源 |
脈沖激光器:405nm、450nm、532nm、633nm; |
變溫PL用低溫恒溫器 |
4K顯微低溫恒溫器,4-300K,閉循環(huán); |
65K顯微低溫恒溫器,溫度范圍:65-500K,開(kāi)循環(huán),液氮制冷; |
|
近紅外擴(kuò)展探測(cè)器 |
紫外可見(jiàn)近紅外TE制冷型PMT,光譜范圍:200-950nm; |
近紅外擴(kuò)展探測(cè)器 |
近紅外TE制冷型PMT,光譜范圍:950-1700nm;(部分銅基薄膜電池需要) |
PL/EL mapping配置 |
基于高光譜相機(jī)的線推掃,速度快; ②NIR高光譜相機(jī),光譜范圍:900-1700nm,像素:320*256,USB2.0接口,5nm光譜分辨率; |
基于顯微PL系統(tǒng)配合電動(dòng)位移臺(tái)進(jìn)行逐點(diǎn)掃描,探測(cè)器可選: ①CCD陣列探測(cè)器:200-1100nm;
②InGaAs陣列探測(cè)器:800-1700nm; |
鈣鈦礦電池PL測(cè)試數(shù)據(jù)
鈣鈦礦電池TRPL測(cè)試數(shù)據(jù)
主機(jī)OmniFluo990為核心光譜采集,405nm ps脈沖激光器耦合顯微光譜模塊實(shí)現(xiàn)微區(qū)的PL和TRPL,77K顯微低溫樣品臺(tái)(溫控范圍:77.2-300K,液氮為冷媒)提供變溫測(cè)量環(huán)境。
鹵化物鈣鈦礦材料的顯微穩(wěn)態(tài)PL測(cè)量
激發(fā)源:405nm ps激光二極管,產(chǎn)生主峰在760nm左右的發(fā)射峰。其中在77K溫度下主峰是763nm,86000信號(hào)強(qiáng)度,在150K溫度下主峰是761nm,15000信號(hào)強(qiáng)度。溫度從77K到150K,峰位藍(lán)移了2nm,并且信號(hào)降低了。
鹵化物鈣鈦礦材料的顯微TRPL測(cè)量
激發(fā)源:405nm ps激光二極管,在77K和150K溫度條件下監(jiān)測(cè)760nm發(fā)射的壽命衰減曲線。通過(guò)右圖的對(duì)比也可以清晰的發(fā)現(xiàn),150K的衰減明顯快于77K的衰減。
銅鋅錫硒電池的顯微PL測(cè)試
參考文獻(xiàn)
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