磁光克爾測量技術(shù)主要通過探測光和磁性樣品相互作用后反射光的偏振態(tài)變化來研究材料的磁性，在超快磁光存儲領(lǐng)域有重要應(yīng)用，磁光克爾測量技術(shù)是一種無接觸光學(xué)測量技術(shù)， 在單原子層微小樣品測量方面獨具優(yōu)勢，實現(xiàn)PPMS和SQUID無法完成的測量。微區(qū)磁光克爾系統(tǒng)是基于磁光克爾效應(yīng)的非接觸、非破壞可直接觀測磁性材料和器件中的磁化狀態(tài)的光學(xué)顯微成像設(shè)備，用于清晰直觀了解樣品內(nèi)的磁化狀態(tài)空間分布和時間演化，。
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出微區(qū)磁光克爾及磁圓二色測試系統(tǒng)，可根據(jù)用戶需求提供定制化解決方案，產(chǎn)品范圍涵蓋微區(qū)磁光克爾系統(tǒng)和磁圓二色測試系統(tǒng)，并可根據(jù)用戶需求升級拓展拉曼，熒光，熒光壽命及二次諧波（可選配電控偏振）等模塊，可用于檢測樣品表面磁性和磁疇結(jié)構(gòu)，適用于磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應(yīng)用領(lǐng)域。
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非接觸，非破壞
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波長，偏振態(tài)，角度分辨
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微區(qū)測量
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磁疇成像
系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：
磁光克爾顯微成像測試系統(tǒng)使用多路鎖相，同步采集，大幅抑制激光功率波動噪聲。配置無磁反射式物鏡或單個非球面鏡成像，極低的法拉第效應(yīng)。使用光彈調(diào)制器，同步獲得MOKE與RMCD數(shù)據(jù)。產(chǎn)品從空間配置與鍍膜參數(shù)嚴(yán)格設(shè)計及檢測的光學(xué)元件組，保偏性能極佳。
主要配置清單
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模塊
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參數(shù)
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主體架構(gòu)
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主體尺寸：長 × 寬 × 高，約 600 mm × 600 mm × 550 mm;
高承重三維電控底座：步進(jìn)電機位移行程：行程：X*Y*Z 120*120*40 mm；XY最小步進(jìn)距離： 0.04 um， Z軸最小步進(jìn)距離：~0.01 um；最大負(fù)載：＞ 10 Kg；
鋁合金整體架構(gòu)；
光路整體移動：1. 光路移出以更換樣品；2. 大范圍尋找待測區(qū)域。
靠近磁體部分采用無磁設(shè)計；
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顯微成像模塊
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尺寸：長 × 寬 × 高，約 550 mm × 550 mm × 145 mm；
可見光相機：20M pixels，15fps@5K ，50fps@1.8K， Sony 1 英寸CMOS;
物鏡： 適配磁體，無磁反射式物鏡或非球面透鏡；
照明光源： 科勒照明， LED面光源，亮度連續(xù)可調(diào)；
成像模塊可電控完全移出光路，且不影響樣品面光斑位置。
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MOKE&RMCD模塊
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外殼尺寸：長 × 寬 × 高，約 550 mm × 550 mm × 145 mm；
包含所需的外置設(shè)備：鎖相放大器；
低噪聲前置放大探頭；
光彈調(diào)制器；
斬波器；
克爾角分辨率： ~0.5 mdeg (~ 8.7mrad)；
一次掃場同時獲得RMCD和MOKE數(shù)據(jù)；
電控切換成像與測試；
電控功率；
Mapping功能，配合步進(jìn)掃描臺，或低溫設(shè)備內(nèi)置壓電臺。
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Raman532&PL&SHG模塊
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外殼尺寸：長 × 寬 × 高，約 550 mm × 550 mm × 145 mm；
拉曼最低波數(shù)：＜ 80 cm-1；
空間分辨率：300 nm （532 nm激光）；
電控偏振掃描：起偏&檢偏，角度分辨率 0.0144 deg；
電控功率調(diào)整；
Mapping功能，配合步進(jìn)掃描臺，或低溫設(shè)備內(nèi)置壓電臺。
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532nm窄線寬激光器
MSL-U-532
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中心波長：532nm+/-0.1
輸出功率：100mw
功率穩(wěn)定性：2%（4 小時 RMS）
M2：＜1.2
線寬：＜0.00001nm
光斑模式：TEM00
噪聲：＜0.5%
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軟件
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MOKE，RMCD，Raman，PL 掃描成像；
偏振掃描；
支持文本代碼輸入，以實現(xiàn)自動化測試流程；
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典型光路原理：
模塊化軟件界面：
可編程自動化運行界面：
典型數(shù)據(jù)和論文：
面掃描，磁疇成像，器件成像
本系統(tǒng)已發(fā)表論文：
[1] Huang X, et al. Nature Communications, 14(1): 2190.( 2023)
[2] Chen X, et al. Adv. Sci. 10, 2207617.( 2023)
[3] Dai H, et al. [J]. ACS nano, 16(8): 12437-12444.( 2022)
[4] Dai H, et al. [J]. ACS Appl. Mater. Interfaces 2021, 13, 24314−24320
[5] Zhang L, et al. Adv. Mater. 2020, 32, 2002032
[6] Wang M, et al. Nanoscale, 2020, 12, 16427.
可擴展功能：
拉曼，熒光，熒光壽命及二次諧波
典型實測數(shù)據(jù)：
偏振二次諧波：紅磷納米帶
熒光壽命掃描（FLIM）：Cs/FA/MA三陽離子鈣鈦礦
13810146393
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