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RTS-SEMR

RTS- SEMR拉曼-電鏡聯(lián)用光譜測試系統(tǒng)

RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體,是一款真正意義上實現(xiàn)國產(chǎn)拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析,彌補了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結構與成分觀察。尤其是針對有機結構、碳結構、同分異構體、晶體與無機相等多領域材料的信息表征,擴展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應用領域,例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等,應用前景廣闊。
 
 
 
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產(chǎn)品概述
拉曼電鏡光譜聯(lián)用技術
產(chǎn)品簡介
 
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,實現(xiàn)對物質微觀形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。拉曼技術在分子級別上提供樣品的化學結構、組分信息;而 SEM 可在納米尺度上提供高空間分辨率的形貌圖像;SEM與拉曼光譜技術相結合,使用 SEM 觀察樣品形貌,并可獲取指定樣品點的拉曼光譜信息,同步獲取樣品材料表面形貌、分子結構與化學組分等信息。
 
典型應用
 
RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)
 
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體,是一款真正意義上實現(xiàn)國產(chǎn)拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析,彌補了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結構與成分觀察。尤其是針對有機結構、碳結構、同分異構體、晶體與無機相等多領域材料的信息表征,擴展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應用領域,例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等,應用前景廣闊。
北京卓立漢光儀器有限公司推出的掃描電鏡-拉曼光譜聯(lián)用裝置采用“離軸”模式設計理念。“離軸”模式掃描電鏡的電子束與拉曼光譜的激光束不同軸,通過移動樣品臺分別進行掃描電鏡-能譜分析和顯微拉曼光譜分析,原位獲取樣品指定位置的形貌信息和化學成分信息。
 
RTS-SEMR 拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng)架構
RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng),電鏡擁有大視野及納米級分辨率,是一個樣品微觀形貌分析平臺,系統(tǒng)耦合拉曼共聚焦光路進入真空樣品倉,實現(xiàn)了樣品在電子束和激光束之間的快速切換,在滿足樣品表征觀察的同時,也能夠實現(xiàn)納米級分辨率的化學成分和空間結構分析,充分發(fā)揮掃描電鏡與拉曼兩者的應用優(yōu)勢。
 

 
拉曼集成掃描電子顯微鏡采用平行雙束方案,搭載高精度復合位移臺可實現(xiàn)樣品在拉曼光軸和電子束光軸之間快速、精確、穩(wěn)定的切換,拉曼掃描范圍高達2.5 mm。
獨特的系統(tǒng)及產(chǎn)品設計保證了操作性、易用性、普適性,用戶可在電鏡中尋找感興趣的材料特征,得到高分辨的掃描結果后,一鍵切換至拉曼光路下進行該區(qū)域的快速/高精度的光譜掃描,隨后得到高匹配程度的拉曼渲染聯(lián)用效果。
拉曼渲染結果的像素與光譜數(shù)據(jù)對應關系可通過軟件程序直接提取,提供進行便捷的結果解析。
 
拉曼光譜集成方案提供了多種配置供用戶選擇,例如激光波長、光譜儀焦長、光柵密度、物鏡等光學核心配置,充分滿足應用及市場的需求。
 
掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)配置多種類型探測器,可實現(xiàn)二次電子和背散射電子同時成像,兼容多種應用模式,可覆蓋生命科學、材料科學、地質科學等多學科科研應用場景。
標配五軸高精度運動平臺及自主設計樣品載臺,可實現(xiàn)多個釘臺同時放樣或單一大尺寸樣品觀測。
 
性能優(yōu)勢
 
· 高靈敏度,高空間分辨率
· 寬行程納米壓電臺,單幀大視野
· SEM+Raman深度耦合,統(tǒng)一操作界面
· 國產(chǎn)自主,核心技術正向研發(fā)
· 平行聯(lián)用方案高精度樣品臺
· 一鍵切換光路高效聯(lián)用成像
· 軟件提取數(shù)據(jù)圖像直接解析
· 定制化配置滿足市場多樣化需求
典型參數(shù)

 

激光波長

532nm(>100mW)

拉曼頻移范圍

60-6000cm-1@532nm

光譜分辨率

<1cm-1

信噪比

>20:1

空間分辨率

橫向分辨率:<500nm@532nm 激光

縱向分辨率:<2um@50um 針孔,532nm 激光;

<1um@10um 針孔,532nm 激光

光譜儀

500 mm 焦長,Czerny-Turner 式全自動切換

光譜CCD探測器

2000*256 像素,背照式深耗盡芯片,QE>90%,可見近紅外專用

光學物鏡

NA=0.9, WD=10mm, 10X

白光源

鹵素燈

樣品臺

類型:步進電機+壓電陶瓷

掃描范圍:2.5mm*2.5mm

 

整機電鏡

FE-SEM F4000

FE-SEM F6000

電子槍

肖特基熱場發(fā)射式電子槍

肖特基熱場發(fā)射式電子槍

分辨率

0.9nm@30kV

1.4nm@15kV

1.0 nm@30 kV

1.2nm@15kV

1.5 nm@l kV(減速模式)

加速電壓

0.02-30kv

0.02-30kv

束流

1pA~40nA

5 pA~30 nA (200 nA可選)

放大倍數(shù)

1x~1,000,000x(底片放大倍數(shù),1~15x光學放大)

1x~1,000,000x(底片放大倍數(shù),1~15x光學放大)

工作環(huán)境要求

溫度20±3/℃;濕度≤80%

工作電壓AC220V、50/60Hz

最大功耗4500W