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MAPS-Zscan系列測(cè)量三階光學(xué)非線性的Z掃描系統(tǒng)

Z掃描測(cè)量系統(tǒng)，可用于研究光子材料的三階非線性吸收特性，三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質(zhì)因子。此系統(tǒng)將工控機(jī)、電機(jī)控制器、Z掃描光路高度集成，設(shè)備占地小且方便移動(dòng)。將樣品放置好后，按操作說明可進(jìn)行一鍵全自動(dòng)測(cè)量。
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產(chǎn)品概述

測(cè)量三階光學(xué)非線性的Z掃描系統(tǒng)
Waynelabs3 的Z掃描測(cè)量系統(tǒng)，可用于研究光子材料的三階非線性吸收特性，三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質(zhì)因子。此系統(tǒng)將工控機(jī)、電機(jī)控制器、Z掃描光路高度集成，設(shè)備占地小且方便移動(dòng)。
將樣品放置好后，按操作說明可進(jìn)行一鍵全自動(dòng)測(cè)量。
 
系統(tǒng)原理示意圖
*此圖僅作為原理示意，以實(shí)際為準(zhǔn)
 
應(yīng)用場(chǎng)景
表征非線性光學(xué)材料的三階非線性光學(xué)特性，包括三階非線性吸收系數(shù)和三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質(zhì)因子。
· 鈮酸鋰、ZnO等薄膜材料；
· 貴金屬納米結(jié)構(gòu)溶液或者薄膜材料；
·  二維材料（TMDs、鈣鈦礦等）薄膜。
 
典型數(shù)據(jù)圖