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55期名師講堂 | 蘇州惟光探真科技有限公司總經(jīng)理—?jiǎng)?zhēng)暉《晶圓級(jí)半導(dǎo)體光電測(cè)試與解決方案》

“名師講堂”系列專題會(huì)

聚焦分子光譜、光電探測(cè)、高光譜與影像、超快光譜等前沿技術(shù)在材料、生醫(yī)、能源科學(xué)等熱門領(lǐng)域的前沿發(fā)展與應(yīng)用，卓立漢光邀請(qǐng)行業(yè)內(nèi)專家學(xué)者以網(wǎng)絡(luò)在線形式進(jìn)行學(xué)術(shù)探討與交流，為光電技術(shù)科研工作者建立全新、高效、開放的學(xué)習(xí)與交流平臺(tái)。

55期名師講堂馬上就要開講啦！

9月26日上午10:00—11:00，蘇州惟光探真科技有限公司總經(jīng)理——劉爭(zhēng)暉，為大家?guī)碇v座《晶圓級(jí)半導(dǎo)體光電測(cè)試與解決方案》。直播期間更有豐富好禮相送，歡迎屆時(shí)參加！

主要內(nèi)容

團(tuán)隊(duì)依托自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的激光輔助離焦量傳感器，小型化科勒照明系統(tǒng)，高穩(wěn)定性的系統(tǒng)集成設(shè)計(jì)、數(shù)據(jù)處理和軟件算法等核心技術(shù)，針對(duì)Si和第三代半導(dǎo)體先進(jìn)制程，提供顯微和熒光成像的核心光學(xué)模組，供AOI系統(tǒng)、缺陷檢查系統(tǒng)、探針臺(tái)等集成；針對(duì)SiC、GaN等第三代半導(dǎo)體材料和MicroLED新型器件先進(jìn)制程中面臨的發(fā)光性質(zhì)、應(yīng)力和載流子濃度不均勻的新問題，提供熒光和拉曼光譜相關(guān)的系統(tǒng)解決方案，與晶圓廠商合作，開拓良率控制的新途徑。供應(yīng)鏈國產(chǎn)穩(wěn)定可控，以更高的性能、更好的應(yīng)用服務(wù)和較低的價(jià)格對(duì)半導(dǎo)體顯微和光譜市場(chǎng)領(lǐng)域進(jìn)行國產(chǎn)替代。

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