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“卓立造,中國芯”——2023年度新品發(fā)布會精彩搶先看?

發(fā)布人: 發(fā)布時間:2022-12-05 文字:

北京卓立漢光儀器有限公司將于2022年12月27日在上海舉辦“卓立造,中國芯”——2023年度新品發(fā)布會,屆時將為大家解鎖多款卓立漢光公司自主研發(fā)的新產(chǎn)品和解決方案,包括匠心打造的高精度“精工”系列光機(jī)/激光產(chǎn)品,微觀時空分辨的飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)/顯微熒光壽命成像系統(tǒng)/瞬態(tài)光電流與光電壓分析系統(tǒng),以及針對半導(dǎo)體行業(yè)和在線檢測的解決方案。

精彩敬請期待。

“卓立造,中國芯”2023年度新品發(fā)布會會議日程

13:00-13:30

嘉賓入場

 

13:30-13:40

致歡迎辭

公司領(lǐng)導(dǎo)

北京卓立漢光儀器有限公司

13:40-13:50

嘉賓致辭

神秘嘉賓

南京大學(xué)

13:50-14:05

新品揭幕

劉沫

 

14:05-14:15

線上活動:紅包雨+有獎問答

 

14:15-14:30

飛秒瞬態(tài)吸收成像技術(shù)進(jìn)展

康斌

南京大學(xué)

14:30-14:45

Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)—看見載流子的運動

覃冰

北京卓立漢光儀器有限公司

14:45-15:00

高精度六軸并聯(lián)機(jī)器人及電動旋轉(zhuǎn)臺介紹

杜勉珂

北京卓立漢光儀器有限公司

15:00-15:15

TPR系列氣浮隔振光學(xué)平臺

苗強(qiáng)

北京卓立漢光儀器有限公司

15:15-15:30

用于半導(dǎo)體精密調(diào)控納米壓電位移臺

叢君狀

多場低溫科技(北京)有限公司

15:30-15:45

茶歇&線上活動(紅包雨+有獎問答)

 

15:45-16:00

TPV/TPC—光電器件動力學(xué)測試方法介紹

張素俠

北京卓立漢光儀器有限公司

16:00-16:15

SPM系列半導(dǎo)體參數(shù)系列測試儀

覃冰

北京卓立漢光儀器有限公司

16:15-16:30

激光衰減及焦斑測試介紹

張瑞寶

北京卓立漢光儀器有限公司

16:30-16:40

線上活動:紅包雨+有獎問答

 

16:40-16:55

遠(yuǎn)程拉曼及燃燒診斷系統(tǒng)介紹

張亮

北京卓立漢光儀器有限公司

16:55-17:10

顯微熒光壽命成像系統(tǒng)—譜儀搭建,輕松Mapping

覃冰

北京卓立漢光儀器有限公司

17:10-17:20

共同期待  2024年度新品發(fā)布會

劉沫

北京卓立漢光儀器有限公司

 


發(fā)布會亮點搶先看

HXP系列六軸并聯(lián)機(jī)器人:揭秘全自由度運動

高精度、高集成度、高效率的全自由度運動,適合于空間精密對位,微小器件加工和裝配,光通信器件調(diào)芯,晶片檢驗等應(yīng)用

納米壓電位移臺:納米至亞納米量級的高精度運動控制

可選控制方式為線性,旋轉(zhuǎn),擺角,掃描。*小單步步長可達(dá)10nm,使用20kHz超聲頻段驅(qū)動,無刺耳運動噪聲。全系產(chǎn)品均可提供超高真空兼容版本以及完全無磁版本以滿足特殊工況要求。

TBR57電動旋轉(zhuǎn)臺:無懼工況復(fù)雜、高耐用性要求的自動化生產(chǎn)線

導(dǎo)向機(jī)構(gòu)采用精密交叉滾柱軸環(huán),負(fù)載能力強(qiáng)、耐用性好,可水平、豎直、倒置使用;獨特調(diào)隙機(jī)構(gòu)設(shè)計,有效較小背隙。高耐磨性、高硬度,內(nèi)置零位傳感器,使用方便。

TPR氣浮隔振& DRN阻尼隔振光學(xué)平臺: 為精密光學(xué)實驗隔振護(hù)航

TPR氣浮隔振平臺,使用了三線擺+層流阻尼技術(shù),對水平和豎直方向的震動有非常好的隔振效果,技術(shù)先進(jìn),性能極佳。5Hz隔振效率高達(dá)85%。

DRN阻尼隔振光學(xué)平臺,采用 **的雙頻阻尼隔振機(jī)構(gòu)配合低固有頻率材料,使整體固有頻率降低到9Hz以下,為精密光學(xué)實驗提供穩(wěn)定且隔振的實驗平臺。

焦斑分析儀&采樣衰減模塊: 無需繁瑣光路調(diào)試,助力高精度微納加工

焦斑分析儀采用高機(jī)械精度一體化設(shè)計,整體光軸偏移控制在0.5°以內(nèi),可校準(zhǔn)的放大率,三種貼心安裝方式,靈活可拆分的鏡頭和部件,滿足客戶個性化的需求。

采樣衰減模塊采用較高機(jī)械精度固定部分自由度,幫助客戶提高光路的可重復(fù)性,更加容易調(diào)出兩套比較一致的衰減系統(tǒng)。衰減值切換,模塊組合、系統(tǒng)集成的便利性,可為客戶節(jié)約大量成本、時間和精力。

Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng): 看見載流子的運動

集成像和動力學(xué)于一體,聯(lián)合飛秒泵浦-探測技術(shù)和顯微技術(shù),通過自主知識產(chǎn)權(quán)的干涉放大技術(shù)增強(qiáng)圖像信噪比,可獲得高質(zhì)量的成像效果并大幅度縮短測試時間。高靈敏、高通量,可測量到單個納米顆粒、單層石墨烯乃至單層分子晶體的瞬態(tài)吸收信號。

顯微熒光壽命成像系統(tǒng):基于光譜儀搭建,Mapping更輕松

基于高靈敏度時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC設(shè)計,聯(lián)合科研級正置顯微鏡和光譜儀,F(xiàn)L Mapping和Lifetime Mapping 無縫切換。定位精度<1um,多類型激光器可選,內(nèi)部光學(xué)元件可以支持多路激光耦合。

TPV/TPV分析系統(tǒng): 光電器件動力學(xué)過程解析利器

光電測試系統(tǒng)針對光電器件動力學(xué)分析新開發(fā)的功能,可得到光生電流的響應(yīng)時間,如上升/下降時間,瞬態(tài)光電流與瞬態(tài)光電壓曲線。從而可以分析光電器件內(nèi)部的動力學(xué)過程,如載流子的遷移率、載流子的壽命、載流子的擴(kuò)散長度等。

SPM 系列半導(dǎo)體測試方案:專為半導(dǎo)體測試應(yīng)用而生

SPM300系列半導(dǎo)體參數(shù)測試儀/SPM600系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/SPM900系列少子壽命成像測試儀,面向半導(dǎo)體行業(yè)推出的專用機(jī)型,可進(jìn)行載流子濃度表征、應(yīng)力分析、雜質(zhì) /缺陷分析、載流子壽命分析、光電測試分析等

在線LIBS+PLIF解決方案:原位實時檢測,快速定性定量

激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)利用脈沖激光激發(fā)出所含物質(zhì)的對應(yīng)譜線進(jìn)行含量成分分析。其優(yōu)點在于快速,簡單,不受樣品性狀影響,并且既可以定性分析,又可以進(jìn)一步進(jìn)行定量分析。

片光源激光誘導(dǎo)熒光(PLIF)是利用將激光整形成厚約幾毫米的片光源激發(fā)燃燒場獲得燃燒場中化學(xué)成分的發(fā)射光譜,例如氧原子,氮原子,OH鍵,CH鍵等。通過在線監(jiān)測軟件,可以很直觀的獲得燃燒場的溫度分布等參數(shù)信息。