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應(yīng)用

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產(chǎn)品類型

行業(yè)應(yīng)用

卓立漢光系統(tǒng)解決方案助力鈣鈦礦材料研究

鈣鈦礦(Perovskite)材料是一類有著與鈦酸鈣（CaTiO3）相同晶體結(jié)構(gòu)的材料。鈣鈦礦材料結(jié)構(gòu)式一般為ABX3,其中A,B是兩種陽離子，X 是陰離子。近200年來，人們對(duì)鈣鈦礦材料的研究從未停止，元素周期表幾乎所有的元素都可以占據(jù)晶格結(jié)構(gòu)的位置組成鈣鈦礦。鈣鈦礦大家族里現(xiàn)已包括數(shù)百種物質(zhì)，范圍極為廣泛，其中很多是人工合成的。這類材料具有獨(dú)特的魅力，其多變的晶體結(jié)構(gòu)可以引申出眾多的材料屬性：可以是絕緣體、半導(dǎo)體、導(dǎo)體、超導(dǎo)體，可以具有鐵電性、鐵磁性，鐵彈性、催化性、質(zhì)子傳導(dǎo)性、離子傳導(dǎo)性、光電性。
小尺度結(jié)構(gòu)研究必備—— 暗場(chǎng)散射光譜

概念解釋：暗場(chǎng)顯微(英文：Dark-field microscopy)或稱暗視野顯微(英文：Dark ground microscopy)描述光學(xué)顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法，除去觀測(cè)物體以外的光線或電子進(jìn)入物鏡，使目鏡中觀測(cè)到的視野背景是黑的，只有物體的邊緣是亮的。利用這個(gè)方法能見到小至 4~200nm的微粒子，分辨率可比普通顯微法高50倍。
閃爍晶體熒光光譜測(cè)試

閃爍晶體到底是什么？可能很多人都沒聽過這個(gè)詞，但其實(shí)，在我們的日常生活中并不陌生。閃爍體是一種當(dāng)被電離輻射激發(fā)之后會(huì)表現(xiàn)出發(fā)光特性的材料，是將高能轉(zhuǎn)換為可見光的一種典型光電轉(zhuǎn)換材料，可用于輻射探測(cè)和安全防護(hù)，通常在應(yīng)用中將其加工成晶體，稱為閃爍晶體。
硫化銦薄膜材料的拉曼光譜研究

硫化銦（In2S3 ）[1]是一種具有極高潛在利用價(jià)值的半導(dǎo)體材料，可作為CIGS薄膜太陽能電池的緩沖層材料，并有望作為Cds緩沖層的替代材料，在光伏與光電器件上有很好的應(yīng)用前景。 In2S3在常溫常壓下比較穩(wěn)定，屬于立方晶系，具有四面體和八面體的空間結(jié)構(gòu)，并存在高密度的In空位。一般存在α、β、r 3種相，常溫下穩(wěn)定的為β 相。
冷CCD在微光顯微鏡(EMMI)的應(yīng)用

半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展，器件特征尺寸不斷下降，而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機(jī)理的分析帶來巨大的挑戰(zhàn)。對(duì)于半導(dǎo)體失效分析(FA)而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測(cè)能力，可偵測(cè)到半導(dǎo)體組件中電子－電洞對(duì)再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來的光線，能偵測(cè)到的波長約在350nm ~ 1100nm 左右。它可以廣泛的應(yīng)用于偵測(cè)IC 中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，如： Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理圖如下:

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